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  跟着电子信息、半导体、医药包装、食物保鲜等职业的加快速度进行开展，薄膜资料作为中心根底资料，其外表洁净度直接决议终端产品的性能与质量 —— 电子元件封装薄膜的尘土粒子帮手会引起电路短路，医药包装薄膜的污染物会影响产品安全性，半导体职业用精细薄膜的微颗粒杂质更是会下降器材良率。但是，薄膜出产的悉数过程中易受质料纯度、出产环境、加工设备等要素影响，外表易吸附微米级乃至亚微米级尘土粒子，传统检测方法存在十分显着限制：人工目视查看功率低下、主观性强，难以辨认细小粒子；离线抽样检测存在数据滞后性，无法实时反映出产线动态洁净度，易导致不合格产品批量流出。

  OSEN-2510L 型 0.1um 激光尘土粒子计数器，是我司自主研制的新一代专用检测设备。该仪器根据光散射中心原理，经过光电感应检测技能完成对尘土粒子的粒径辨认与数量计算。相较于惯例大流量粒子计数器，此款设备的检测粒径下限更低，可精准捕捉最小 0.1um 的微粒，适配一级至十级超洁净环境场景。